陜西碳化硅器件測試儀1、設備功能 適用于傳統硅基及SiC二極管、三極管、MOSFET、J-FET、IGBT單管及模塊、整流橋、可控硅、光耦、PIM及IPM模塊等十九類半導體分立器件全靜態參數測試 2、運行條件 溫度：25±5℃ 相對濕度：<60%，在或/低于30℃ 通風條件：設備四面距離墻面大于5cm 交流電源：220V±10%，47-63Hz，良好的測試儀器接地 3、可測試器件種類及參數 1）、二極管：DIODE 測試參數：IR、BVR、VF 2)、晶體管：TRANSISTOR(NPN型/PNP型) 測試參數：ICBO、ICEO、IEBO、BVCEO、hFE、VCESAT、VBESAT、VBE(VBEON) 3)、穩壓（齊納）二極管：ZENER 測試參數：IR、VZ、MIN、VZ MAX、VF 4)、結型場效應管：J-FET(N-溝/P-溝，耗盡型/增強型) 測試參數：IGSS、IDOFF、IDGO、BVDGO、BVGSS、VDSON、VGSON、IDSS、IDSON、RDSON、gFs 5）、MOS場效應管：POWER MOSFET(N-溝/P-溝) 測試參數：IDSS、IGSSF、IGSSR、BVDSS、VGSTH、VDSON、VF、IDON、VGSON、RDSON、gFs 6）、三端穩壓器：REGULATOR（正電壓/負電壓，固定/可變） 測試參數：VOUT、IIN 7）、光電耦合器：OPTP-COUPLER（NPN型/PNP型） 測試參數：ICOFF、ICBO、IR、BVCEO、BVECO、BVCBO、BVEBO、CTR、VCESAT、VSAT、VF 8)、可控硅整流器（普通晶閘管）：SCR 測試參數：IDRM、IRRM、IGKO、VDRM、VRRM、BVGKO、VTM、I GT、VGT、IL、IH 9)、雙向可控硅（雙向晶閘管）：TRIAC 測試參數：IDRM、IRRM、IGKO、VD+、VD-、BVGKO、VT+、VT-、I